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项目介绍:

韩国企业开发出了一种可以探测Micro LED芯片是否存在异常的技术。该技术能否消除Micro LED模组及显示屏难以商用化的困难,引起业界关注。


韩国半导体设备公司Nano X 7日表示,公司已开发出能够测量Micro LED芯片电特性和光特性的探头(Probe Head)。


该装置用于测量Micro LED芯片的性能通过。检查施加电流时的电压变化、光的波长和强度等,检查Micro LED是否正常运行。


Micro LED通常指100微米(1μm=100万分之一米)以下的芯片。Nano X的探头可对应50μm。

 

 

通过现有技术很难检测到Micro LED芯片。因为体积非常小,无法对芯片单元进行检测,通常会集中Micro LED并制作成模组或面板后,再确认有无异常。


但这样问题颇多。如果发现不良品后,不得不再次从模组中取出有问题的Micro LED芯片,再贴上正常芯片,这使得显示屏制造异常困难,并造成成本上升。Nano X首席技术官张必国表示:“更换不良芯片是厂商最苦恼的问题。”


Nano X探头装有5~10μm大小的Pin,通过将Pin接触到Micro LED进行检查。使用小于Micro LED的超微型的Pin,直接测量每个芯片。Nano X强调,Pin具有弹性,有助于解决了每个Micro LED高度不同时(平坦度差异)可能产生的非接触问题。


Nano X公司表示,利用该探头技术将可降低不良率,对Micro LED模组及显示屏量产带来显著效果,并计划将其商业化为探针卡和设备。


CTO张必国表示:“我们已经在国内外申请了专利,目前正在与三星电子、Seoulviosys合作。”


<探头的驱动示例>

事宜人群:
产品详情

Nano X开发Micro LED检测技术,可探测不良芯片提高面板良率

Nano X开发Micro LED检测技术...可探测不良芯片提高面板良率

韩国企业开发出了一种可以探测Micro LED芯片是否存在异常的技术。该技术能否消除Micro LED模组及显示屏难以商用化的困难,引起业界关注。


韩国半导体设备公司Nano X 7日表示,公司已开发出能够测量Micro LED芯片电特性和光特性的探头(Probe Head)。


该装置用于测量Micro LED芯片的性能通过。检查施加电流时的电压变化、光的波长和强度等,检查Micro LED是否正常运行。


Micro LED通常指100微米(1μm=100万分之一米)以下的芯片。Nano X的探头可对应50μm。

 

Nano X开发Micro LED检测技术...可探测不良芯片提高面板良率

 

通过现有技术很难检测到Micro LED芯片。因为体积非常小,无法对芯片单元进行检测,通常会集中Micro LED并制作成模组或面板后,再确认有无异常。


但这样问题颇多。如果发现不良品后,不得不再次从模组中取出有问题的Micro LED芯片,再贴上正常芯片,这使得显示屏制造异常困难,并造成成本上升。Nano X首席技术官张必国表示:“更换不良芯片是厂商最苦恼的问题。”


Nano X探头装有5~10μm大小的Pin,通过将Pin接触到Micro LED进行检查。使用小于Micro LED的超微型的Pin,直接测量每个芯片。Nano X强调,Pin具有弹性,有助于解决了每个Micro LED高度不同时(平坦度差异)可能产生的非接触问题。


Nano X公司表示,利用该探头技术将可降低不良率,对Micro LED模组及显示屏量产带来显著效果,并计划将其商业化为探针卡和设备。


CTO张必国表示:“我们已经在国内外申请了专利,目前正在与三星电子、Seoulviosys合作。”


Nano X开发Micro LED检测技术...可探测不良芯片提高面板良率

<探头的驱动示例>

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